上海理工大學萬新軍獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉上海理工大學申請的專利薄壁自由曲面光學元件夾持變形的測量裝置及其使用方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN111156918B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-12-23發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202010055983.4,技術領域涉及:G01B11/16;該發明授權薄壁自由曲面光學元件夾持變形的測量裝置及其使用方法是由萬新軍;莊松林;張書練;談宜東;解樹平;張卓男設計研發完成,并于2020-01-18向國家知識產權局提交的專利申請。
本薄壁自由曲面光學元件夾持變形的測量裝置及其使用方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種薄壁自由曲面光學元件夾持變形的測量裝置及其使用方法,包括工作架,所述工作架的內部安裝有樣品臺、圖像發生機構、激光發生機構、圖像采集機構和升降機構;所述圖像發生機構、所述激光發生機構和所述圖像采集機構皆位于所述樣品臺的上方,所述樣品臺上安裝有用于夾持薄壁自由曲面光學元件的夾持結構;所述夾持結構包括第一夾持部、第二夾持部、轉軸和驅動所述轉軸轉動的驅動件,所述第一夾持部和所述第二夾持部分別與所述轉軸鉸接,所述第二夾持部與所述轉軸之間設有復位彈性件。本發明其測量裝置可適用于測試分析凹形曲面薄壁光學元件凸形曲面薄壁光學元件的裝夾方式和裝夾載荷對光學元件面型和位置精度的影響。
本發明授權薄壁自由曲面光學元件夾持變形的測量裝置及其使用方法在權利要求書中公布了:1.一種薄壁自由曲面光學元件夾持變形的測量裝置,其特征在于:包括工作架1,所述工作架的內部安裝有樣品臺2、圖像發生機構3、激光發生機構4、圖像采集機構5和驅動所述樣品臺上下移動的升降機構6;所述圖像發生機構、所述激光發生機構和所述圖像采集機構皆位于所述樣品臺的上方,所述樣品臺上安裝有用于夾持薄壁自由曲面光學元件的夾持結構7; 所述夾持結構包括第一夾持部71、第二夾持部72、轉軸73和驅動所述轉軸轉動的驅動件74,所述第一夾持部和所述第二夾持部分別與所述轉軸鉸接,所述第二夾持部與所述轉軸之間設有復位彈性件,所述復位彈性件套于所述轉軸上; 所述第一夾持部相對所述第二夾持部的一側設有第一夾持槽75,所述第二夾持部相對所述第一夾持部的一側設有第二夾持槽76,所述第一夾持槽的開設方向與所述第一夾持部的寬度方向相互平行,所述第二夾持槽的開設方向與所述第二夾持部的寬度方向相互平行; 所述圖像發生機構、所述激光發生機構、所述圖像采集機構、所述升降機構和所述驅動件皆與移動終端電連接; 所述第一夾持部和所述第二夾持部皆為弧形夾持部; 所述復位彈性件為復位彈簧; 所述驅動件為力矩電機; 當力矩電機反相通電后,會使轉軸定向發生旋轉,導致第一夾持部會朝向遠離第二夾持部的方向轉動,從而使夾持結構呈打開狀態,便于放置凹形曲面薄壁光學元件;當力矩電機正相通電后,轉軸在復位彈簧的作用下回轉,導致第一夾持部會朝向靠近第二夾持部的方向轉動,從而使夾持結構呈關閉狀態;當夾持結構呈打開狀態時,可通過第一夾持槽和第二夾持槽夾持凸形曲面薄壁光學元件,通過調節力矩電機電流進而調節第一夾持部和第二夾持部之間的轉矩,給凹形曲面薄壁光學元件凸形曲面薄壁光學元件一定的夾持力以使凹形曲面薄壁光學元件凸形曲面薄壁光學元件發生變形。
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